刀口扫描式光束分析仪

更新:2020-8-18 21:51:10      点击:
  • 品牌:   DUMA
  • 型号:   Beam Analyzer USB
  • 在线订购
产品介绍

刀口扫描式光束分析仪


该光束分析仪是一款基于刀口扫描技术的产品。相比于CCD光束分析仪,具有更高的分析精度和分辨率,以及更小的光斑测量尺寸。同时具有较宽的光谱范围,覆盖UV-VIS-NIRBeamAnalyzer有两种探测头,分别是3刀口(BA3)和7刀口(BA7)。BA3的分析仪适用于更小的光斑和近高斯类型的光束测量。BA7对任意光斑类型都适用,且精度更高。

产品特点

* 宽光谱范围:190-1800 nm

* 可测光斑直径从3μm9mm,精度最高达0.1μm

* 光束2D/3D图像实时显示

* 可测量多种激光参数:光束轮廓,光斑尺寸,光束形状,

光束位置和功率

* 采用刀口扫描技术,实现高精度高分辨率的光束分析

* 高动态范围: A/D 12 bit

* 主机、探头以及控制软件采用USB2.0技术

* 结构紧凑,可用于OEM集成


主要参数

传感器类型

Silicon (Si), UV-Silicon (UV-Si)InGaAs (IR) or IR Enhanced (IRE)

光谱范围

Si

UV-Si

IR

IRE

350-1100nm

190-1100nm

800-1800nm

1200-2700nm

刀片数

 

3BA3头)

7BA7头)

光束尺寸范围

BA3-SiBA3-UV

BA7-SiBA7-UV(椭圆形)

BA7-SiBA7-UV(圆形)

BA3-IR3BA3-IR3-E

BA7-IR3BA7-IR3-E

BA3-IR5

BA7-IR5

3µm-5mm

15µm-10mm

15µm-9mm

3µm-3mm

15µm-3mm

3µm-5mm

15µm-5mm

光束宽度分辨率

>100µm

<100µm

1µm

0.1µm

光束宽度精确度

 

±2%

功率范围

SiUV-Si探头

InGaAs探头

10µW-1W(有衰减片)

10µW-5mW(无衰减片)

功率精确度

SiUV-Si探头

InGaAs探头

±5%

±10%

功率分辨率

 

0.1µW

位置精确度

 

±15µm

位置分辨率

 

1µm

饱和度

SiUV-Si探头

0.1W/cm2(无衰减片)20W/cm2(NG9)

刷新速率

 

5Hz

温度

 

00C-350C

PC接口

 

USB2.0

订货信息:




BA3-Si   3-blades, Si detector 5mm circular





BA7-Si   7-blades, Si detector 9mm square





BA3-UV   3-blades, UV-Si detector 5mm circular





BA7-UV   7-blades, UV-Si detector 9mm square





BA3-IR3   3-blades, InGaAs detector 3mm circular





BA3-IR3E   3-blades, InGaAs Enhanced 3mm circular





BA7-IR3   7-blades, InGaAs detector 3mm circular





BA7-IR3E   7-blades, InGaAs Enhanced 3mm circular





BA3-IR5   3-blades, InGaAs detector 5mm circular





BA7-IR5   7-blades, InGaAs detector 5mm circular



相关配件:



SAM3-B    Beam Sampler, with mounting adapter – sampling reduction factor 0.0016 average

BA-Fiber    A fiber adapter with an FC connector

BA-Mount  A mount enabling head rotation about the optical axis




更多产品