激光光束M2因子分析仪M2 Beam

更新:2020-8-19 22:09:22      点击:
  • 品牌:   DUMA
  • 型号:   M2 Beam
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产品介绍

激光光束M2因子分析仪M2 Beam

DUMA新推出的激光光束M2因子分析仪M2 Beam,基于刀口式和相机式光束分析仪,实现220~2700nm波段的连续和脉冲激光的测量,其准确率高于95%。

* 可检测连续激光以及脉冲激光

* 独特的断层图像重建技术

* 最大25mm光束尺寸测量

* USB3.0接口快速数据传输

* 激光质量监控

* 可配置采样器,实现高功率激光检测

* 即插即用,使用便捷

型号

M2Beam

M2Beam U3

技术工艺

刀口式扫描原理,应用Si探测器,InGaAs探测器和增强型InGaAs探测器

USB 3.0接口

CMOS 2.4MP

内置滤光片轮

光谱响应

SI传感器:350-1100nm

InGaAs传感器:800-1800 nm

Enhanced InGaAs 传感器:800-2700 nm

VIS-NIR350-1600 nm

UV-NIR220-1350 nm

激光功率范围

Si100 μW-1 W(带衰减片)

InGaAs&UV100 μW-5 mW

HP < 4 kW

10μW-100mW,内置滤光轮

HP< 4 kW

刀口数

7

光束尺寸

带透镜高达25mm直径(Si&UV版本)

束腰到透镜距离

2.0~2.5米最佳,最小2

-扫描装配附件

材质

透镜焦距

300mm(在632.6nm时)

透镜直径

25mm

扫描次数

140

最小步进尺寸

100μm

扫描长度

280mm

-整机

重量

2.5kg

尺寸

100×173×415 mm

托架

M61/4“固定

机械调整

水平角:±1.5°,垂直角:±1.5°

电缆长度

2.5m


光束分析仪订购信息:

M2Beam-Si measurement device for silicon range (3501100nm)

M2Beam-UV measurement device for silicon range (1901100nm)

M2Beam-IR measurement device for silicon range (8001800nm)

M2Beam-U3-VIS-NIR - measurement device for 350-1600 nm CMOS based

M2Beam-UV-NIR Special consult factory.

SAM3-HP-M beam sampler for high power beams


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